Зведений каталог бібліотек Львова

Одиниці вимірювання.Сталі

Підтеми:

Документи:

Справочное пособие для работников метрологических служб [Текст] : в 2 кн. / Борис Артемьев. — 2-е изд., перераб. и доп. — М. : Изд-во стандартов, 1986. — 352 с.
Стандартизация и метрология [Текст] : материалы 2-го координационного совещ. АН СССР и Академий Наук Союзных Республик по работе в обл. стандартизации / АН СССР, Центр автоматизации науч. исследований и метрологии ; [редкол.: В. Н. Едидович (отв. ред.) и др.]. — Кишинев : Штиинца, 1984. — 130 с.
Стандартные образцы в системе обеспечения единства измерений [Текст] / под ред. Н. Г. Семенко. — М. : Изд-во стандартов, 1990. — 286, [1] с.
Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов допущенные к выпуску в обращение в СССР [Текст] : описание утвержденных образцов / Гос. комитет СССР по стандартам. — М. : Изд-во стандартов, 1979. — 96 с.
Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов допущенные к выпуску в обращение в СССР [Текст] : описание утв. образцов / Гос. комитет СССР по стандартам. — М. : Изд-во стандартов, 1978. — 127 с.
Таблицы перевода англо-американских строительных мер в метрическую систему [Текст] / Александр Любовский. — Киев : Госстройиздат, 1958. — 112 с.
Теоретическая метрология [Текст] : [учеб. для втузов] / Игорь Шишкин. — М. : Изд-во стандартов, 1991. — 471, [1] с.
Теоретическая метрология [Текст] : [учеб. пособие] / Сев.-Зап. заоч. политехн. ин-т. — Л. : Изд-во СЗПИ, 1983. — 83 с.
Теоретические вопросы метрологии [Текст] : труды метрологических институтов СССР / Всес. науч.-исслед. ин-т метрологии ; под ред. Ю. В. Тарбеева. — Л., 1979. — 108 с.
Теоретические и прикладные исследования в области системных измерений [Текст] : сб. науч. тр. / Гос. ком. СССР по стандартам, Всесоюз. науч.-исслед. ин-т метрологии измер. управляющих систем. — Львов : ВНИИМИУС, 1987. — 92 с.
Теоретические и прикладные исследования в области технологии минеральных удобрений [Текст] : межвуз. сб. науч. трудов / Ленингр. технолог. ин-т ; [редкол.: М. Е. Позин (отв. ред.) и др.]. — Л. : Изд-во ЛТИ, 1984. — 148 с.
Теоретические исследования в области физики и метрологии [Текст] : сб. статей / [редкол.: Л. М. Пятигорский (отв. ред.) и др.]. — М. : Изд-во стандартов, 1974. — 220 с.
Теория вероятностей и статистика в метрологии и измерительной технике [Текст] / Владимир Фрумкин, Николай Рубичев. — М. : Машиностроение, 1987. — 167 с.
Теория неопределенности в измерениях [Текст] : учеб. пособие для студентов вузов / Игорь Захаров, Виталий Кукуш. — Х. : Консум, 2002. — 256 с.
Теория оптических систем и оптические измерения [Текст] : учеб. для техникумов / Нина Гвоздева, Клавдия Коркина. — М. : Машиностроение, 1981. — 384 с.
Физические величины (терминология, определения, обозначения, размерности, единицы) [Текст] : справочник / Александр Чертов. — М. : Аквариум, 1997. — 335 с.
Физические величины (терминология, определения, обозначения, размерности, единицы) [Текст] : справочник / Александр Чертов. — М. : Высш. шк., 1990. — 335 с.
Физические методы исследования прозрачных неоднородностей [Текст] : конспекты докл. [семинара, 1983 г.] / О-во "Знание" РСФСР, Моск. Дом науч.-техн. пропаганды им. Ф. Э. Дзержинского. — М. : МДНТП, 1984. — 49 с.
Физические методы исследования прозрачных неоднородностей [Текст] : тез. докл. [семинара, 1979 г.] / О-во "Знание" РСФСР, Моск. Дом науч.-техн. пропаганды им. Ф. Э. Дзержинского. — М. : МДНТП, 1980. — 45 c.
Физические методы исследования прозрачных неоднородностей [Текст] : тез. докл. [семинара, 1982 г.] / О-во "Знание" РСФСР, Моск. Дом науч.-техн. пропаганды ; [науч. ред. В. С. Сухоруких]. — М. : МДНТП, 1983. — 40 с.
Физические методы исследования прозрачных неоднородностей [Текст] : тез. докл. [семинара, 1985 г.] / О-во "Знание" РСФСР, Моск. Дом науч.-техн. пропаганды им. Ф. Э. Дзержинского ; [науч. ред. В. С. Сухоруких]. — М. : МДНТП, 1986. — 49, [2] с.
Физические методы исследования прозрачных неоднородностей [Текст] : тез. докл. [семинара, 1986 г.] / О-во "Знание" РСФСР, Моск. Дом науч.-техн. пропаганды им. Ф. Э. Дзержинского. — М. : МДНТП, 1987. — 79 с.
Физические методы исследования прозрачных неоднородностей [Текст] : тез. докл. [семинара, 1987 г.] / О-во "Знание" РСФСР, Моск. Дом науч.- техн. пропаганды им. Ф. Э. Дзержинского. — М. : МДНТП, 1988. — 54, [2] с.
Физические методы исследования прозрачных неоднородностей [Текст] : тез. докл. [семинара, 1988 г.] / О-во "Знание" РСФСР, Моск. Дом науч.-техн. пропагнды им. Ф. Э. Дзержинского. — М. : МДНТП, 1989. — 39, [1] с.
Физические методы исследования прозрачных неоднородностей [Текст] : тез. докл. [семинара, 1989 г.] / О-во "Знание" РСФСР, Моск. Дом науч.-техн. пропаганды им. Ф. Э. Дзержинского. — М. : МДНТП, 1990. — 38 с.
Физические основы единиц измерения [Текст] / пер. с нем.: В. Е. Маркевича, Н. В. Мицкевича ; под ред. А. Н. Матвеева. — М. : Мир, 1980. — 208 с.
Философские аспекты измерения в современной физике [Текст] / Лев Гутнер. — Л. : Изд-во Ленингр. ун-та, 1978. — 134 с.
Фотоэлектрические многопараметровые методы измерения [Текст] : [монография] / Ферган. политехн. ин-т. — Ташкент : Фан, 1979. — 108 с.
Фундаментальные константы и квантовая электродинамика [Текст] / пер. с англ. В. Д. Бурлакова, В. Г. Кречета и В. Г. Лапчинского ; под ред. Б. А. Мамрина. — М. : Атомиздат, 1972. — 328 с.
Фундаментальные проблемы метрологии [Текст] : материалы Всесоюз. семинара / Науч.-исслед. ин-т метрологии ; [редкол.: Ю. В. Тарбаев (отв. ред.) и др.]. — Л. : [б. и.], 1981. — 95 с.
Фундаментальные физические постоянные [Текст] : учеб. пособие для вузов / Олег Спиридонов. — М. : Высш. шк., 1991. — 238 с.
Einheiten, GroBen, Gleichungen und ihre praktische Anwendung [Текст] / Hans Forster. — 3., verbesser. Aufl. — Leipzig : Fachbuchverlag, 1976. — 239 S.
Problemy metrologiczne identyfikacji cech obiektu zywego poddanego nieinwazyjnej transiluminacji [Текст] / Anna CysewskaSobusiak. — Poznan : WPP, 1995. — 139 s.
XXXII Miedzyuczelniana Konferencja Metrologow [Текст] : Rzeszow - Jawor, 11-15 wrzesnia 2000 r. / Politech. Rzeszowska, Wydz. elektryczny, Zakl. metrologii i systemow pomiarowych ; pod patronatem Kom. Metrologii i Aparatury Nauk., Pol. Akad. Nauk. — Rzeszow : Wydaw. Politech. Rzeszowskiej, 2000. — 633 s.

1 2 3 4