Зведений каталог бібліотек Львова

• Класифікатори та каталоги
• Властивості та структура молекулярних систем

Властивості та структури, виявлені за допомогою рентгенівських променів. Виявлення тонкої структури

Документи:

• Аппаратура и методы ренгеновского анализа [Текст] : [сб. статей] / Спец. конструктор. бюро рентген. аппаратуры ; [редкол.: Н. И. Комяк (отв. ред.) и др.]. — Л. : Машиностроение, 1973. — 315 с.
• Аппаратура и методы ренгеновского анализа [Текст] : [сб. ст.] / Спец. конструкт. бюро рентген. аппаратуры ; [редкол.: Н. И. Комяк (отв. ред.) и др.]. — Л. : Машиностроение, 1974. — 280 с.
• Аппаратура и методы рентгеновского анализа [Текст] : сб. статей / Ленингр. науч.-произв. об-ние "Буревестник" ; [редкол.: Н. И. Комяк (гл. ред.) и др.]. — Л. : Машиностроение, 1983. — 168 с.
• Аппаратура и методы рентгеновского анализа [Текст] : сб. статей / Ленингр. науч.-произв. об-ние "Буревестник" ; [редкол.: Н. И. Комяк (гл. ред.) и др.]. — Л. : Машиностроение, 1984. — 151 с.
• Аппаратура и методы рентгеновского анализа [Текст] : сб. ст. / Ленигр. науч.-произв. об-ние "Буревестник" ; [редкол.: Н. И. Комяк (гл. ред.) и др.]. — Л. : Машиностроение, 1983. — 120 с.
• Аппаратура и методы рентгеновского анализа [Текст] : сб. ст. / Ленингр. науч.-произв. об-ние "Буревестник" ; под общ. ред. А. И. Слуцкера. — Л. : Машиностроение, 1989. — 200 с.
• Аппаратура и методы рентгеновского анализа [Текст] : сб. ст. / Ленингр. науч.-произв. об-ние "Буревестник" ; [редкол.: И. И. Комяк (гл. ред.) и др.]. — Л. : Машиностроение, 1982. — 128 с.
• Аппаратура и методы рентгеновского анализа [Текст] : сб. ст. / Ленингр. науч.-произв. об-ние "Буревестник" ; [редкол.: Н. И. Комяк (гл. ред.) и др.]. — Л. : Машиностроение, 1978. — 260 с.
• Аппаратура и методы рентгеновского анализа [Текст] : сб. ст. / Ленингр. науч.-произв. об-ние "Буревестник" ; [редкол.: Н. И. Комяк (гл. ред.) и др.]. — Л. : Машиностроение, 1980. — 232 с.
• Аппаратура и методы рентгеновского анализа [Текст] : сб. ст. / Ленингр. науч.-произв. об-ние "Буревестник" ; [редкол.: Н. И. Комяк (гл. ред.) и др.]. — Л. : Машиностроение, 1982. — 143 с.
• Аппаратура и методы рентгеновского анализа [Текст] : сб. ст. / Ленингр. науч.-производ.объединение; [редкол.: Н. И. Комяк (гл. ред.) и др.]. — Л. : Машиностроение, 1981. — 158 с.
• Аппаратура и методы рентгеновского анализа [Текст] : сб. ст. / ЛНПО "Буревестник" ; [гл. ред. Н.И. Комяк]. — Л. : Машиностроение, 1979. — 192 с.
• Аппаратура и методы рентгеновского анализа [Текст] / Спец. конструктор. бюро рентген. аппаратуры; [редкол.: Комяк Н. И. (гл. ред.) и др.]. — Л. : Машиностроение, 1972. — 262 с.
• Высокочувствительный рентгенофлюоресцентный анализ с полупроводниковыми детекторами [Текст] / Алексей Жуковский, Геннадий Пшеничный. — М. : Энергоатомиздат, 1991. — 159, [2] с.
• Динамическая дифракция рентгеновских лучей [Текст] : учеб. пособие / Моск. гос. ун-т им. М.В. Ломоносова. — М. : Изд-во МГУ, 1989. — 156 с.
• Динамічна дифракція х-променів у багатошарових структурах [Текст] : [монографія] / НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — К. : Наук. думка, 2008. — 224 с.
• Дифракционный и резонансный структурный анализ. Рентгено-, электроно-, нейтроно-мессбауэрография и мессбауэровская спектроскопия [Текст] : [учеб. пособие для вузов] / под общ. ред. Г. С. Жданова. — М. : Наука, 1980. — 254 с.
• Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов в неидеальных кристаллах [Текст] : монография / АН УССР, Ин-т металлофизики. — Киев : Наук. думка, 1983. — 408 с.
• Дозиметрия ионизирующих излучений. Радиометрия и рентгенометрия [Текст] / Константин Аглинцев. — М. ; Л. : Гостехиздат, 1950. — 500 с.
• Електронна кореляція і фізико-хімічні властивості матеріалів [Текст] : посіб. для студ. / за ред. Я. Й. Дутчак ; Львів. держ. ун-т ім. І. Франка. — Л. : Вища шк., 1979. — 92 с.
• Электронно-зондовый микроанализ [Текст] / пер. с англ. С. Г. Конникова, А. Ф. Сидорорва ; под ред. И. Б. Боровского. — М. : Мир, 1974. — 260 с.
• Элементарный механизм возникновения характеристических рентгеновских спектров [Текст] / Александр Жмудский. — Киев : Изд-во Киев. ун-та, 1971. — 24 с.
• Кристалічна будова, термічне розширення та фазові перетворення змішаних рідкісноземельних алюмінатів зі структурою перовскиту [Текст] : автреф. дис. ... канд. техн. наук : 01.04.07 / Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Л., 2011. — 20 с.
• Кристалічна будова, термічне розширення та фазові перетворення змішаних рідкісноземельних алюмінатів зі структурою перовскиту [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 01.04.07 / Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Львів, 2011. — 163 c.
• Малоугловая рентгенография деформации и разрушения материалов [Текст] / Анатолий Бекренев, Лев Миркин. — М. : Изд-во МГУ, 1991. — 246 с.
• Методы рентгенографии в физическом материаловедении [Текст] : лаб. работы / Горьк. гос. ун-т ; [сост. А. Ф. Щуров и др.]. — Горький : [б. и.], 1974. — 131 с.
• Мировая экономика [Текст] : краткий справочник / Л.И. Миркин. — Изд. 2-е перераб. и доп. — М. : Экономика, 1965. — 307 с.
• Многоволновая дифракция рентгеновских лучей в кристаллах [Текст] / пер. с англ. М. А. Поликарпова ; под ред. А. М. Афанасьева. — М. : Мир, 1987. — 334 с.
• Оптическая томография [Текст] / Геннадий Левин, Геннадий Вишняков. — М. : Радио и связь, 1989. — 224 с.
• Основы теории дифракции рентгеновских лучей [Текст] : рассмотрение в объеме, необходимом для изучения электрон. строения монокристаллов : учеб. пособие для студентов хим. специальностей вузов / Леонид Асланов, Евгений Треушников. — М. : Изд-во Моск. ун-та, 1985. — 216 с.
• Полідоменна сегнетоеластична структура та її взаємодія з точковими дефектами в твердотілих оксидних електролітах [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 01.04.07 / Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Л., 2011. — 20 с.
• Полідоменна сегнетоеластична структура та її взаємодія з точковими дефектами в твердотілих оксидних електролітах [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 01.04.07 / Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Л., 2011. — 133 с.
• Процессы структурного упорядочения и эффект переключения в пленках CdGa2(In2)Te4 [Текст] : автореф. дис. ... канд. физ-мат. наук : 01.04.10 / Вильнюс. гос. ун-т им. В. Капсукаса. — Вильнюс, 1985. — 16 c.
• Прямые и патерсоновские методы расшифровки кристаллических структур [Текст] / АН МолдССР, Ин-т приклад. физики ; отв. ред. Т. И. Малиновский. — Кишинев : Штиинца, 1972. — 311 с.
• Рассеяние рентгеновских лучей конденсированными средами [Текст] / МГУ им. М. В. Ломоносова, Физ. фак. — М. : МГУ, 1991. — 95, [1] с.
• Рассеяние рентгеновских лучей под малыми углами. Основы теории и эксперимента [Текст] : учеб. пособие / Куйбышев. авиац. ин-т. — Куйбышев, 1979. — 88 с.
• Рассеяние рентгеновских лучей под малыми углами. Расчет рентгенограмм [Текст] : учеб. пособие / Куйбышев. авиац. ин-т. — Куйбышев : КПИ, 1981. — 88 с.
• Рассеяние рентгеновых лучей искаженными кристаллами [Текст] : учеб. пособие по спецкурсу / Петрозавод. гос. ун-т. — Петрозаводск : [б. и.], 1981. — 116 с.
• Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов [Текст] / Александр Афанасьев, Петр Александров, Рафик Имамов. — М. : Наука, 1986. — 96 с.
• Рентгеновские и фотоэлектронные спектры кислородорганических соединений [Текст] / отв. ред. В. А. Коган. — Ростов : Изд-во Ростов. ун-та, 1983. — 144 с.
• Рентгеновские спектры и электронная структура силицидов и германидов [Текст] / АН УССР ; Ин-т проблем материаловедения. — Киев : Наук. думка, 1981. — 319 с.
• Рентгеновские спектры поглощения твердых тел [Текст] / Ростислав Ведринский, Игорь Гегузин. — М. : Энергоатомиздат, 1991. — 183, [1] с.
• Рентгеновские спектры твердых тел [Текст] / отв.ред. С. В. Вонсовский ; АН СССР, Урал. науч. центр, Ин-т физики металлов. — М. : Наука, 1988. — 175 с.
• Рентгенографический и электроннооптический анализ. Практическое руководство по рентгенографии, электронографии и электронной микроскопии металлов, полупроводников и диэлектриков [Текст] / Семен Горелик, Леонид Расторгуев, Юрий Скаков. — 2-е изд., испр. и доп. — М. : Металлургия, 1970. — 368 с.
• Рентгенографія кристалів [Текст] : навч. посіб. / М-во освіти і науки, Одес. нац. ун-т ім. І. І. Мечникова, Фіз. ф-т. — Одеса : ОНУ, 2013. — 196 с.
• Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев [Текст] / Александр Афанасьев, Петр Александров, Рафик Имамов. — М. : Наука, 1989. — 151, [1] с.
• Рентгенооптичні ефекти в багатошарових періодичних квантових структурах [Текст] / за ред. В. П. Кладька ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. — К. : Наук. думка, 2006. — 287 с.
• Рентгеноспектральный анализ: раздельный учет физических процессов [Текст] / АН Украины, Ин-т проблем материаловедения им. И. Н. Францевича. — Киев : Наук. думка, 1992. — 233 с.
• Рентгеноспектральный и электронно-микроскопический методы исследования структуры и свойств материалов [Текст] / под ред. В. Б. Нестеренко ; Ин-т ядер. энергетики. — Минск : Наука и техника, 1980. — 192 с.
• Рентгеноспектральный метод изучения структуры аморфных тел. EXAFS-спектроскопия [Текст] / АН СССР, Ин-т катализа ; отв. ред. Г. М. Жидомиров. — Новосибирск : Наука, 1988. — 302, [3] с.

1   2