Зведений каталог бібліотек Львова

• Класифікатори та каталоги
• Кафедра "Системи автоматизованого проектування"

Андрущак Назарій Анатолійович, аспірант

Документи:

• Дисперсія показників замовлення кристалічних матеріалів в широкому діапазоні змін довжин хвиль: від оптичного до сантиметрового [Текст] / Н.А. Адрущак, І.Д. Карбовник, Я.В. Бобицький, Є.М. Ящишин // П'ятнадцята відкрита науково-технічна конференція Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки з проблем електроніки та інфокомунікаційних систем : програма та тези доп. [конф.], 3-5 квіт. 2012 р., [Львів] / М-во освіти і науки, молоді та спорту України ; [редкол.: Д. М. Заячук (відп. ред.) та ін.]. — Львів : Вид-во Львів. політехніки, 2012. — С. 24.
• Інтерферометрична установка для визначення показника заломлення плоскопаралельних пластин в діапазонах мм-субмм довжин хвиль. Апробація на прикладі оптичного скла і кристалів кварцу, сапфіру та евлітину [Текст] / Н.А. Андрущак, О.І. Сиротинський // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". Серія : Електроніка : [зб. наук. пр.] / М-во освіти і науки України ; відп. ред. Д. Заячук. — Львів : Вид-во Нац. ун-ту "Львів. політехніка", 2006. — С. 179-184.
• Оцінка похибки визначення показників заломлення плоскопаралельних пластин інтерферометрично-поворотним методом в діапазоні ММ-СУБММ хвиль [Текст] / Н.А. Андрущак, О.І. Сиротинський // Одинадцята відкрита науково-технічна конференція професорсько-викладацького складу Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки з проблем електроніки : тези доп. конф., 1-3 квіт. 2008 р., Львів / М-во освіти і науки України ; [відп. ред. Д. М. Заячук]. — Львів : Вид-во Нац. ун-ту "Львів. політехніка", 2008. — С. 6.
• Просторова анізотропія фотопружного ефекту в кристалах кварцу [Текст] / А. Андрущак, О. Юркевич, Н. Андрущак та ін. // Електроніка та інформаційні технології : зб. наук. пр. / Львів. нац. ун-т ім. І. Франка. — Л., 2011. — С. 98-109.
• Розробка методів та засобів визначення показників заломлення оптоелектронних елементів у діапазоні довжин хвиль 400 нм+10 мм [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.12.20 / Мін-во освіти і науки, молоді та спорту України, Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Л., 2012. — 16 с.
• Розробка методів та засобів визначення показників заломлення оптоелектронних елементів у діапазоні довжин хвиль 400 нм+10 мм [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 05.12.20 / М-во освіти і науки, молоді та спорту України, Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Львів, 2012. — 164 с.
• Удосконалення процесу вимірювань показника заломлення інтерферометрично-поворотним методом [Текст] / Н. Андрущак, І. Карбовник, Я. Бобицький та ін. // Теоретична електротехніка : зб. наук. пр. / Львів. держ. ун-т; редкол.: П. Г. Стахів (відп. ред.) та ін. — Л., 2010. — С. 120-127.
• Algorithm of setup operation for measuring the materials permittivity in millimeter wave range [Текст] / Nazariy Andrushchak, Volodymyr Andrushchak // Досвід розробки та застосування приладо-технологічних САПР в мікроелектроніці : матеріали XIІІ Міжнар. наук.-техн. конф. CADSM 2015, 24-27 лют. 2015 р., Львів, Поляна, Україна / М-во освіти і науки України, Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Львів : Вид-во Львів. політехніки, 2015. — C. 5-8.
• A novel approach for measuring dielectric permittivity at Sub-THz frequencies using vector network analyzer [Текст] / Nazariy Andrushchak, Yevgen Yashchyshyn, Ivan Karbovnyk, Andriy Vaskiv, Anatoliy Andrushchak // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії : матеріали XII Міжнар. конф.TCSET'2014, присвяч. 170-річчю заснування Нац. ун-ту "Львів. політехніка", 25 лют.-1 берез. 2014 р., Львів, Славське, Україна / Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Львів : Вид-во Львів. політехніки, 2014. — С. 168-170.
• Automation of measuring process of materials refractive indexes in the millimeter waves range by interferometric-turning method [Текст] / Anatoliy Andrushchak, Oleg Syrotynski, Nazariy Andrushchak // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії : матеріали міжнар. конф. TCSET'2008, 19-23 лют. 2008 р., Львів, Славсько, Україна / М-во освіти і науки України, Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Львів : Вид-во Нац. ун-ту "Львів. політехніка", 2008. — С. 224.
• Comparative analysis of algorithms for projected laser line identification and recognition for 3D scanning devices [Текст] / N. Andrushchak, В. Vasylyshyn, V. Chornenkyy // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". Серія : Електроніка : [зб. наук. пр.] / М-во освіти і науки України ; відп. ред. Д. Заячук. — Львів : Вид-во Нац. ун-ту "Львів. політехніка", 2006. — С. 84–90.
• Development and approbation of novel interference technique for materials permittivity investigation in the frequency range of 50–75 GHz [Текст] / Nazariy Andrushchak // Modern problems of radio engineering, telecommunications and computer science (TCSET'2016) : proc. of the XIII Intern. conf., febr., 23-26, 2016, Lviv-Slavske, Ukraine / Min. of Education and Science of Ukrainiane, Lviv Polytechn. Nat. Univ. — Львів : Вид-во Львів. політехніки, 2016. — P. 186-190.
• Development of master degree program on design and application of reconfigurable smart radioelectronic devices [Текст] / Y.M. Yashchyshyn, M.V. Lobur, P.V. Livchak та ін. // Досвід розробки та застосування приладо-технологічних САПР в мікроелектроніці : матеріали XIІІ Міжнар. наук.-техн. конф. CADSM 2015, 24-27 лют. 2015 р., Львів, Поляна, Україна / М-во освіти і науки України, Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Львів : Вид-во Львів. політехніки, 2015. — C. 276-278.
• Electro-optical investigation of bulk and nanostructured materials with tailored anisotropy in subTHz frequency range [Текст] / N.A. Andrushchak, Ye.M. Yashchyshyn, K. Godziszewski та ін. // Nanotechnology and nanomaterials : book of abstr. intern. research and practice conf., Aug. 26-29, 2015, Lviv, Ukraine / Nat. Acad. of Sciences of Ukraine, Inst. of Physics of NAS of Ukraine, Europ. Profiles A. E. (Greece), Inst. of Physics of the Univ. of Tartu (Estonia), Univ. of Turin (Italy), Pierre and Marie Curie Univ. (France), I. Franko Nat. Univ. of Lviv. — Lviv, 2015. — P. ??.
• Enhanced interferometric technique for non-destructive characterization of crystallive optical materials: automated express refractive index measurements [Текст] / I.D. Karbovnyk, N.A. Andrushchak, Ya.V. Bobitskii // 5th International conference on advanced optoelectronics and lasers : conf. proc., Sevastopol, Ukraine, 10-14 Sept. 2010 / Kharkov nat. univ. of radio electronics. — Sevastopol, 2010. — P. 226-227.
• Information technology for most efficient application of bulk and nanocrystalline materials as sensitive elements for optoelectronic devices [Текст] / Anatoliy Andrushchak, Oleh Buryy, Bohdan Mytsyk та ін. // Modern problems of radio engineering, telecommunications and computer science (TCSET'2016) : proc. of the XIII Intern. conf., febr., 23-26, 2016, Lviv-Slavske, Ukraine / Min. of Education and Science of Ukrainiane, Lviv Polytechn. Nat. Univ. — Львів : Вид-во Львів. політехніки, 2016. — P. 395-398.
• Interferometry technique for refractive index measurements at subcentimeter wavelengths [Текст] / N.A. Andrushchak, O.I. Syrotynsky, I.D. Karbovnyk та ін. // Microwave and Optical Technology Letters. — 2001. — Iss. 5. — P. 1193-1196.
• New interference technique for determination of low loss material permittivity in the extremely high frequency range [Текст] / N.A. Andrushchak, I.D. Karbovnyk, K. Godziszewski та ін. // IEEE transactions on instrumentation and measurement. — New York, 2015. — Iss. 11. — P. 3005-3012.
• Sub-THZ automated measurement of the refractive indiced in materials [Текст] / Yevgen Yashchyshyn, Nazariy Andrushchak, Ivan Karbovnyk, Anatoliy Abdryshchak // The XVIIIth International seminar on physics and chemistry of solids : book of abstr., Lviv, Sept. 12–15, 2012. — Lviv, 2012. — P. 106-107.