Сколоздра Ярослав Васильович, асист.
Документи:
- Дослідження характеристик матеріалів для ультразвукової термометрії [Текст] / Тетяна Залуцька, Ярослав Луцик, Ярослав Сколоздра, Богдан Михалик // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідом. наук.-техн. зб. / М-во освіти і науки України, Нац. ун-т "Львів. політехніка"; відп. ред. Б. І. Стадник. — Львів : Вид-во Нац. ун-ту "Львів. політехніка", 2005. — С. 155-158.
- Математична модель взаємозв’язку показників компетентності персоналу випробувальних лабораторій з показниками мотивації [Текст] / М. Сколоздра, Р. Байцар, Я. Сколоздра // Термографія і термометрія, метрологічне забезпечення вимірювань та випробувань. Системи-2013 : тези доп. міжнар. наук.-техн. конф., 23-27 верес. 2013 р., [Львів] / М-во освіти і науки України, Нац. ун-т "Львів. політехніка", ДП "НДІ метрології вимірюв. і управляючих систем", Лодз. техн. ун-т (Польща), Акад. метрології України, Рада підприємців у Львів. обл. ; [за ред. Б. І. Стадника]. — Львів : Вид-во Львів. політехніки, 2013. — С. 235.
- Метрологія та вимірювання [Текст] : навч. посіб. / за наук. ред. Б. І. Стадника ; М-во освіти і науки, молоді та спорту України, Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Львів : Вид-во Львів. політехніки, 2012. — 312 с.
- Основи метрології та електричні вимірювання [Текст] : навч. посіб. / за наук. ред. Б. І. Стадника ; М-во освіти і науки, молоді та спорту України, Нац. ун-т "Львів. політехніка". — Л. : Вид-во Львів. політехніки, 2011. — 372 с.
- Особенности механизмов генерации и "залечивания" структурных дефектов в сильно легированном интерметаллическом полупроводнике n-ZrNiSn [Текст] / В.А. Ромака, E.K. Hlil, Я.В. Сколоздра та ін. // Физика и техника полупроводников. — 2009. — 2009. — C. 1157-1164.
- Features of the mechanisms of generation and "Healing" of structural defects inthe healivy doped intermetallic semiconductor n-ZrNiSN [Текст] / V.A. Romaka, E.K. Hlil, Ya.V. Skolozdra та ін. // Semiconductors. — 2008. — № 7. — P. 1115-1123.
|
