В данной работе кратко проанализированы данные по влиянию внешних воздействий на электрофизические свойства диодных структур с барьером Шоттки и их стабильность к внешним воздействиям.

• Известия ВУЗов. Радиоэлектроника [Текст] : Научно-технический журнал. — 2008. — № 1-2. — 80 с.
• Известия ВУЗов. Радиоэлектроника (ч/з) [Текст] : Научно-технический журнал. — К. : "Киевский политехнический институт".

• УДК // Телекомунікація. Зв'язок. Телеграф. Телефон. Радіозв'язок. Техніка та обладнання для передачі зображень (відеотехнологія та обладнання). Телекерування