Опис документа

Багатофункціональний сканувальний зондовий мікроскоп з алмазним вістрям. Нанотехнологічні дослідження при атмосферних умовах [Текст] / О.Г. Лисенко // Наука та інновації [Текст] : Науково-практичний журн. — С. 8-12.
Изготовление микро- и наноразмерных структур с применением протонной пучковой литографии: современное состояние и перспективы развития [Текст] / В.Е. Сторижко, В.И. Мирошниченко, А.Г. Пономарев // Наука та інновації [Текст] : Науково-практичний журн. — С. 17-22.
Компания LECO. 75 лет на мировом рынке аналитического оборудования [Текст] // Наука та інновації [Текст] : Науково-практичний журн. — С. 80-81.
Механическая подготовка объектов для электронно-микроскопических исследований [Текст] / С.А. Фирстов, Н.И. Даниленко // Наука та інновації [Текст] : Науково-практичний журн. — С. 13-16.
Новое оборудование японской корпорации SHIMADZU для исследовательских лабораторий [Текст] / А.Б. Сухомлинов // Наука та інновації [Текст] : Науково-практичний журн. — С. 48-57.
Новые предложения компании STRUERS для материаловедческих лабораторий [Текст] / Е.В. Верцанова // Наука та інновації [Текст] : Науково-практичний журн. — С. 58-64.
Новые приборы компании AGILENT TECHNOLOGIES для научных исследований [Текст] / А.Н. Есауленко, А.В. Выпирайленко, М.Н. Гринченко // Наука та інновації [Текст] : Науково-практичний журн. — С. 65-72.
Оборудование компании INTERTECH CORPORATION для лабораторного анализа и научных исследований [Текст] / И.Н. Артемьева, С.Н. Романов // Наука та інновації [Текст] : Науково-практичний журн. — С. 73-79.
Просвечивающая электронная микроскопия вчера и сегодня: расширяя границы познаваемого [Текст] / А.Г. Держипольский, Д.А. Меленевский // Наука та інновації [Текст] : Науково-практичний журн. — С. 39-42.
Системы ELECTROPULS - электродинамические испытательные машины будущего [Текст] // Наука та інновації [Текст] : Науково-практичний журн. — С. 82-83.
Сканирующий ионный гелиевый микроскоп [Текст] / Ю.В. Петров // Наука та інновації [Текст] : Науково-практичний журн. — С. 23-25.
"СНГ: партнерство в инновациях" [Текст] // Наука та інновації [Текст] : Науково-практичний журн. — С. 89-90.
Характеризация элементного распределения по глубине пленок и покрытий методами RF GD-OES и TOFMS [Текст] / П. Чапон, О.К. Костенко // Наука та інновації [Текст] : Науково-практичний журн. — С. 34-38.