Зведений каталог бібліотек Рівного
389О-16Облан, Ж. М. Метрологія і запити нанотехнологій [Текст] / Ж.М. Облан // Метрологія та прилади. — Харків : ВКФ "Фавор", 2008. — 2. — с.56-57.
- Ключові слова:
- Є складовою частиною документа:
Метрологія та прилади [Текст]. — Харків : ВКФ "Фавор", 2008. — 2. — 72с.
- Теми документа