Зведений каталог бібліотек Рівного

 

389
О-16Облан, Ж. М.
    Метрологія і запити нанотехнологій [Текст] / Ж.М. Облан // Метрологія та прилади. — Харків : ВКФ "Фавор", 2008. — 2. — с.56-57.


- Ключові слова:

метрологія, метрология, metrollogy

- Є складовою частиною документа:

- Теми документа

  • УДК // Метрологія



Наявність
Установа Кількість Документ на сайті установи
Бібліотека Технічного коледжу Національного університета водного господарства та природокористування.