Васильева, Т.     Информационно-измерительная экспертная система проведения испытаний технических средств по требованиям безопасности [Текст] / Т. Васильева // CHIP NEWS. Инженерная микроэлектроника. — Москва, 2008. — №6 : Российский рынок электронных компонентов. — С. 41-44.