Козирев, Ю. М.     Дослідження систем нанокластерів Si та Ge на поверхні SiOx / Si, одержаних методом молекулярно-променевої епітаксії [Текст] / Ю.М. Козирев, М.Т. Картель, М.Ю. Рубежанська та ін. // Доповіді Національної Академії Наук України: Математика. Природознавство. Технічні науки. — К., 2003. — №6. — С. 71-76.