Зведений каталог бібліотек Тернополя
Сиротенко, А. Метрологія формування наносистеми з використанням фрактального підходу [Текст] / А. Сиротенко, В. Ковальчук // Метрологія та прилади : науково-виробничий журнал. — Харків : ВКФ "Фавор", 2012. — №2. — с.61-65.
- Є складовою частиною документа:
Метрологія та прилади [Текст] : науково-виробничий журнал. — Харків : ВКФ "Фавор", 2012. — №2. — 72 с.
- Теми документа